デジタル膜厚計

膜厚計

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業務用機材商社一筋で、創業41年。東大阪市商工会議所会員、2005年度IT百選企業。
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デジタル膜厚計/ 品番 M2700TM-3711T 【詳細表示】
商品番号 M2700TM-3711T 価 格
デジタル膜厚計M2700TM-3711T コンパクトな設計ながら高精度/高分解能で各種コーティング材の膜厚を測定できます。 デジタル膜厚計
品番 M2700TM-3711T
■特徴
●コンパクトな設計ながら高精度/高分解能で各種コーティング材の膜厚を測定できます。
●磁気誘導プローブは磁性体の本体に非磁性体がコーティングされている場合のコーティング厚を計ります。
●渦電流プローブは非磁性体の本体に絶縁体のコーティングがされている場合のコーティング厚を計ります。
●6種類のオプションプローブを使用することでいろいろな用途に使用できます。
●連続的測定もシングル測定も可能です。
●直接測定とバッチ測定の2つの測定モード
●5種類の統計が取れます。
平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値(MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV)
●2種類の校正方法
●バックライト付き
●640測定データの記録
●プリンタ内蔵
●電圧低下表示
●オートパワーオフ機能

■プローブタイプ
タイプ F N
測定方法 磁気誘導 渦電流
コーティング 非磁性材料 非導体
基板(ベース) 磁性材料 非磁製金属
測定範囲 0~1250μm 0~1250μm
0~40μm(銅上のクロム板用)
最小分解能 0.1μm
公差 ゼロ点校正 ±(3%H+1)μm ±(3%H+1.5)μm
±[(1~3)%H+1]μm ±[(1~3)%H+1.5]μm
測定条件 最小曲率半径 コンベクシティ1.5mm コンベクシティ3mm
最小試験面積直径  φ7mm φ5mm
基材の臨界厚さ 0.5mm 0.3mm
備考
※Hは試験片の厚さを意味する


■仕様
品番 M2700TM-3711T
プローブタイプ F
測定方法 磁気誘導
測定範囲 0~1250μm
最小分解能 0.1μm
公差 ゼロ点校正 ±(3%H+1)μm
±[(1~3)%H+1]μm
測定条件 最小曲率半径 コンベクシティ1.5mm
最小試験面積直径  φ7mm
基材の臨界厚さ 0.5mm
規格 DIN、ISO、ASTM、BS
校正 ゼロおよびフォイル校正
インタフェース RS232
統計 測定数、平均、標準偏差、最大値および最小値
データメモリ 640件
測定限界 アラーム付きで調整可能
電源 NiMH充電池
動作環境 温度 0~40℃
湿度 20%~90%
その他 強い磁場がない
寸法 230×86×47mm
標準付属品 本体、プローブ(M2700PRB-F1TM)、標準基板、
基準箔校正フォイル、充電器、印刷用紙、
校正証明書、保証カード、取扱説明書
※Hは試験片の厚さを意味する



■オプションプローブ


品番 M2700PRB-F400TM M2700PRB-F1TM
動作原理 磁気誘導
測定範囲 0-400μm 0~1250
最小分解能 0.1μm 0.1μm
精度 1点校正 ±(3%H+1)μm
2点校正 ±[(1~3)H%+0.7]μm ±[(1~3)H%+1]μm
測定条件 最小曲率半径 凸1mm 1.5mm
最小試験面積直径  φ3mm φ7mm
基材の臨界厚さ 0.2mm 0.5mm
※Hは試験物の厚さ



品番 M2700PRB-F190DGTM M2700PRB-F10TM
動作原理 磁気誘導
測定範囲 0~1250 0~10000μm
最小分解能 0.1μm 10μm
精度 1点校正 ±(3%H+1)μm ±(3%H+10)μm
2点校正 ±[(1~3)H%+1]μm ±[(1~3)%H+10]μm
測定条件 最小曲率半径 Flatten 10mm
最小試験面積直径  φ7mm φ40mm
基材の臨界厚さ 0.5mm 2mm
※Hは試験物の厚さ



品番 M2700PRB-N1TM M2700PRB-NCN02TM
動作原理 渦電流
測定範囲 0~1250μm
0~40μm
(クロム板用銅の上に)
10~200μm
最小分解能 0.1 1
精度 1点校正 ±(3%H+1.5)μm ±(3%H+1)μm
2点校正 ±[(1~3)%H+1.5]μm -
測定条件 最小曲率半径 3mm Flatten
最小試験面積直径  φ5mm φ7mm
基材の臨界厚さ 0.3mm 無制限
※Hは試験物の厚さ

運賃、および消費税は、記載価格には、含まれていません。

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